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SWT（Fe 探頭）規(guī)格

模型

超細(xì)鐵-2.5※1/2.5升

SFe-0.6筆

方法

磁感應(yīng)型

范圍

0~2.50毫米

0~600μm

顯示分辨率

1μm：0～999μm切換至0.1μm：0～400μm 0.5μm：400～500μm 0.01mm：1.00～2.50mm

1μm：0～600μm切換至0.1μm：0～400μm 0.5μm：400～500μm

精度（平面垂直測試）

0～100μm：±1μm或±2%讀數(shù)值
101μm～2.50mm：±2%

0～100μm：±1μm或±2%讀數(shù)值 101μm～600μm：
±2%讀數(shù)值

探針

單點(diǎn)接觸恒壓型，
V型切口 2.5:φ15×47mm 2.5L:18x23x67mm

單點(diǎn)接觸恒壓型，V 型切口 φ5.6 x 92.2mm

V 型探頭適配器※2/非

非

配件

標(biāo)準(zhǔn)厚度，測試零板（Fe）

測量物體

在鐵、鋼等磁性金屬基體上進(jìn)行涂覆、襯里、熱噴膜、電鍍（電解質(zhì)鍍鎳除外）等。

在狹窄/狹小的地方和部分基材（如鐵、鋼）上進(jìn)行涂層、襯里、電鍍。

※1.探頭耐高溫（約200℃）。（SFe-2.5）
※2.V型探頭適配器（≤φ5、φ5~10、φ10~20共3種）可與SFe-2.5配合使用。

模型

超細(xì)鐵-10

超細(xì)鐵-20

方法

磁感應(yīng)型

范圍

0~10毫米

0~20毫米

顯示分辨率

1微米:0~999微米
0.01毫米:1~10毫米

1微米:0~999微米
0.01毫米:1~5毫米
0.1毫米:5~20毫米

精度（平面垂直測試）

0~3mm:±(5μm + 3%讀數(shù))
大于或3.01mm:±3%讀數(shù)

探針

單點(diǎn)接觸恒壓型，V型切口φ20.4x47.1mm

單點(diǎn)接觸恒壓型，V型切口φ35x55mm

配件

標(biāo)準(zhǔn)厚度、試驗(yàn)零板（Fe）

測量物體

相對(duì)較厚的物體

厚物體

探頭必須單獨(dú)訂購。

SWT（NFe 探頭）的規(guī)格

模型

SNFe-2.0/2.0L

方法

渦流型

范圍

0~2.00毫米

顯示分辨率

1μm：0～999μm
切換至
0.1μm：0～400μm 0.5μm：400～500μm
0.01mm：1.00～2.00mm

精度（平面垂直測試）

0～100μm：±1μm
或±2%讀數(shù)
101μm～2.00mm：±2%

探針

單點(diǎn)接觸恒壓型，V型切口
2.0:φ15×47mm 2.0L:18×22×67mm

V 型探頭適配器※/非

配件

標(biāo)準(zhǔn)厚度，測試零板（NFe）

測量物體

鋁、銅等非磁性金屬基材上的絕緣膜

比較通用的用途對(duì)象

探頭必須單獨(dú)訂購。

※SNFe-2.0可配用V型探頭適配器（3種：φ5以下、φ5~10、φ10~20）。

模型

SNFe-0.6

SNFe-8

方法

渦流型

范圍

0~600μm

0~8毫米

顯示分辨率

1μm：0～600μm
切換至
0.1μm：0～400μm
0.5μm：400～500μm

1微米:0~999微米
0.01毫米:1~8毫米

精度（平面垂直測試）

0～100μm：±1μm
或±2%讀數(shù)
101μm～600μm：±2%

0～3mm：±（5μm + ±3%讀數(shù)）
大于或3.01mm：±3%讀數(shù)

探針

單點(diǎn)接觸恒壓型，V型切口φ13×45.5mm

單點(diǎn)接觸恒壓型，V型切口φ35×59mm

非

配件

標(biāo)準(zhǔn)厚度，測試零板（NFe）

測量物體

鋁、銅等非磁性金屬基材上的絕緣膜

與鋁、銅一樣，具有高穩(wěn)定性，適用于窄條、管材和微小件

相對(duì)較厚的物體

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SANKO三高 SNFe-8 渦流測厚儀探頭

特殊功能

SWT（Fe 探頭）規(guī)格

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